膜厚儀/橢偏儀/真空鍍膜/蝕刻 / 橢圓偏光儀-J.A.Woollam

T-Solar薄膜厚度量測/太陽能pss

T-Solar系統是設計專業量測太陽能電池Textured結構膜層的橢圓儀,涵蓋了UV-VIS-IR全波段波長,改善量測粗化層和特殊金字塔結構薄膜時影響的入射光訊號,發展了專用的傾斜平台和新的Intensity-Optimizer,在單多晶矽或是其它材料結構上有效的測試Textured金字塔結構數據.特性有圖案化藍寶石基板PSS

可量測單多晶矽Textured結構之膜層(Thin film measurement)
圖案化藍寶石基板PSS
Textured Mono- and Multi- crystalline substrates
AR coatings (SiNx、AlNx)
Transparent conductive oxides(ITO、ZnOx、AZO)
a-Si、uc-Si、poly-Si
Orgamic PV materials
Dye sensitized films

圖案化藍寶石基板PSS

使用特殊的傾斜旋轉量測技術,可以量測到更準確的數據,更貼近模型和擬合數據

*特殊的旋轉傾斜樣品台,可自動化傾斜角度
*手動或自動變化量測角度,範圍45-90度
*特殊傾斜樣品台,傾斜角度0-60度
*波長範圍245-1000nm,可進一步擴展至1690nm
*專利光強調整設計,可調整入射光強度
*使用CCD偵測器
*特殊傾斜及旋轉角度量測樣品台,提供單多晶矽Textured結構量測
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圖案化藍寶石基板PSS
*可360度旋轉的樣品載台.可以解決太陽能基板texture結構之樣品反射角度不一的問題
*除了量測厚度外.也可量測不同波長下的n值.非接觸式.且精度極高


透過傾斜樣品台,取得更好的樣品數據

  
光強調整濾光片,可自動調整入射光強度以適用不同表面的膜層
T-Solar薄膜厚度量測/太陽能pss

*Intensity Optimizer專利光強調整設計,透過傾斜樣品台,取得更好的樣品數據,,粗化面或光滑面皆可有效量測 

太陽能單多晶矽textured結構材料
ITO、TCO導電玻璃 
圖案化藍寶石基板PSS

詳細請洽業務!!
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