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iKon-L SO
    發布時間: 2020-07-29 16:49    
Andor
Andor
Andor ikon-L SO 高能X – Ray相機，搭載 > 95% QE 背照式感測器，並且有極低噪聲讀出，以及可低至 -100°C深度 TE 製冷，提供最出色的靈敏度性能。具有大於iKon-M的高解析度 4.2 Megapixels大面積感測器及13.5 µm像素尺寸，可在 VUV 和軟 X 射線範圍內同時進行高動態範圍和高空間解析度成像。提供便利的 16 點、刀口密封 6 英寸可旋轉 CF-152 法蘭可搭配任何兼容的真空室接口，提供最堅固且最高效的密封。 iKon-L還提供 USB2.0接口和 Labview 或 EPICS 軟體兼容性，可無縫集成到複雜的設置中。
iKon-L SO 特點
  • 4.2 Megapixels 大面積感測器
  • 高達95% QE值 (soft x-ray region)
  • 高解析度13.5x13.5 µm 像素尺寸
  • TE-cooling 低至 -100°C
  • 讀取噪聲低至 2.9 e-
  • Labview and EPICS 兼容性
iKon-L SO 應用
  • VUV/EUV/XUV Imaging
  • X-Ray Imaging  X射線成像
  • X-Ray Microscopy  X射線顯微鏡
  • X-Ray Diffraction  X射線衍射 (XRD)
  • X-Ray Plasma Imaging  X射線電漿成像
  • X-Ray source characterization  X 射線源表徵
  • X-Ray Phase Contrast Imaging  X 射線相襯成像
  • X-Ray Tomography  X 射線斷層掃描
  • High Harmonic Generation  高次諧波產生 (HHG)
  • Crystallography 晶體學
iKon-L SO
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