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CLAS-2D系統
    發布時間: 2020-09-15 12:27    
Lumetrics
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CLAS 2D WAVEFRONT MEASUREMENT AND LASER BEAM PROFILING-Lumetrics

CLAS-2D™ Shack-Hartmann波前儀系統涵括了干涉儀(interferometer)、光斑分析(beam profiler)、光束品質計(Beam quality meter)。系統的軟體用以分析光的畸變(aberration)，包含散光性(astigmatism), 慧差(coma), 球面畸變(spherical aberration), 聚焦誤差(focus error/collimation), 傾斜(tilt)以及更多。 CLAS-2D還附加量測M2光斑品質、MTF(Moudulation transfer function)、Strehl Ratio、近場和遠場的光斑散度(Beam divergence)，以及其他的光斑參數。雷射可用連續(CW)和脈衝式(Pulse)，機型有可見光、近紅外光、遠紅外光三種型號可選擇。
CLAS-2D系統 特點：
  • 雷射光斑解析Laser beam diagnostics
  • 光學測試Optical testing
  • 對準Alignment
  • 角度測量Angular measurement
  • 準直Collimation
  • 表面測量Surface measurement
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