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膜厚儀-MProbe HC
    發布時間: 2020-04-28 12:32    
Semiconsoft
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膜厚儀-MProbe HC 光反射式膜厚量測儀

光反射式膜厚儀MProbe HC是一個完整量測薄膜上硬鍍層的平面或曲面系統。膜厚儀MProbe HC是基於MProbe 20平台，專門為硬鍍層應用而設計的系統。膜厚量測應用的例子: 聚碳酸酯鏡片上硬塗層膜，汽車大燈上的硬度層量測。MProbeHC系統使用手動探針（CSH）可以快速而可靠地測量塗料的曲面。手動探針具有柔軟的橡膠底，並且可以直接在樣品彎曲部分放置。
手動探針具備兩種型式：CSH（測定點〜2毫米）和CSHF（測定點〜200微米），可以根據不同的應用中使用。探頭符合樣品的曲率和精確的測量可以很容易地進行。
MProbeHC光反射式膜厚儀
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