Optris ® PI 08M紅外線熱像儀的光譜範圍為800nm,可減少因未知或變化的發射率引起的測量誤差。這種红外熱像儀結構分辨率,其光譜範圍以及575°C到1900°C的連續測量範圍,幾乎適用於所有的NIR和CO₂雷射加工應用。幀速率1 kHz,並具有較高的光學分辨率,能夠最佳地適應不同的應用程序,是台灣客戶相當常用的紅外線熱像儀品牌推薦。 PI 08M 雷射應用紅外線熱像儀 主要參數
特殊窄帶光譜響應為800 nm,幾乎是所有NIR和CO₂雷射加工應用的理想之選
廣泛的測量範圍:575°C至1900°C,無子範圍溫度標定之功能
高動態CMOS檢測器,分辨率高達764 x 480分辨率
高達1 kHz幀率的快速處理
實時模擬輸出,響應時間為1 ms
包括功能強大的軟體和SDK
PI 08M 雷射應用紅外線熱像儀 應用
Optris PI 08M短波長紅外熱像儀可以很好地阻擋800 nm以上的輻射,非常適用於雷射加工應用。光譜範圍為800 nm,受到周圍環境影響的體積較小,因此即使面對不斷變化的 發射率,也可以確保測量精確。 PI 08M 雷射應用紅外線熱像儀