Multi-Function Target多功能高倍率校正片
發布時間: 2020-06-04 12:16
Edmund
這種“集多功能於一身”的校準卡可用來校準顯微鏡和機器視覺系統的參數,而不需分別校正。本卡可用來測試和校準Mitutoyo物鏡,Zeiss物鏡,以及高倍視頻鏡頭的分辨率,畸變,以及景深(DOF)等等。測試卡中包括各種頻率的蝕刻線,一組柵格和同心圓,一組微刻尺,以及邊緣撐塊來支撐測量景深的卡。帶使用信息卡, 一盤CD(操作說明),以及NIST認證說明。
低頻測試板用在倍率為4X到20X的物鏡,適合用在機器視覺系統上的低倍長焦系統
高頻測試板用在倍率為20X到100X的物鏡,可用在顯微鏡和其它高倍短焦系統。
Multi-Function Calibration Target用於低放大倍率系統多功能校正片 主要參數
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尺寸:1×3(inch)
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厚度:#56-076 (6.35mm);#56-077 (9mm)
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表面平整度:3 - 4λ
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平行度:1(arcmin)
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塗層:鍍鉻
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總體精度(μm):±1.0
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基質:熔融石英
Multi-Function Calibration Target用於低放大倍率系統多功能校正片 主要特點
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用來測試校準,適用於顯微鏡和機器視覺系統
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包括蝕刻線(郎奇製作法)同心圓,正方形柵格,以及直線微尺
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有兩種測試卡選,分別用在不同的倍率
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附帶N.I.S.T.認證證書