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Multi-Function Target多功能高倍率校正片
    發布時間: 2020-06-04 12:16    
Edmund
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這種“集多功能於一身”的校準卡可用來校準顯微鏡和機器視覺系統的參數,而不需分別校正。本卡可用來測試和校準Mitutoyo物鏡,Zeiss物鏡,以及高倍視頻鏡頭的分辨率,畸變,以及景深(DOF)等等。測試卡中包括各種頻率的蝕刻線,一組柵格和同心圓,一組微刻尺,以及邊緣撐塊來支撐測量景深的卡。帶使用信息卡, 一盤CD(操作說明),以及NIST認證說明。 低頻測試板用在倍率為4X到20X的物鏡,適合用在機器視覺系統上的低倍長焦系統 高頻測試板用在倍率為20X到100X的物鏡,可用在顯微鏡和其它高倍短焦系統。

Multi-Function Calibration Target用於低放大倍率系統多功能校正片 主要參數
  • 尺寸:1×3(inch) 
  • 厚度:#56-076 (6.35mm);#56-077 (9mm)
  • 表面平整度:3 - 4λ
  • 平行度:1(arcmin) 
  • 塗層:鍍鉻
  • 總體精度(μm):±1.0
  • 基質:熔融石英
Multi-Function Calibration Target用於低放大倍率系統多功能校正片 主要特點
  • 用來測試校準,適用於顯微鏡和機器視覺系統
  • 包括蝕刻線(郎奇製作法)同心圓,正方形柵格,以及直線微尺
  • 有兩種測試卡選,分別用在不同的倍率
  • 附帶N.I.S.T.認證證書
服務熱線:886-2-2655-2200  業務咨詢:151 / 維修校正:185
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