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雙軸線性標度測微尺
    發布時間: 2020-06-04 17:11    
Edmund
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本線標測微尺可同時精確校準機器視覺系統的X軸和Y軸，校準時無需旋轉，無需補償相機寬高比例。本品有兩組刻線，公制刻線（25微米一小格）和英制刻線（0.001英寸一小格）。玻璃基片，鍍鉻層，1" x 3" x 1.5mm。

雙軸線性標度測微尺 主要參數
  • 尺寸：25.4 x 76.2 ±0.100（mm）
  • 厚度：1.50 ±0.100（mm）
  • 總體精度：±3（μm）
  • 刻度：公制25μm；英制1 mil (0.001")
雙軸線性標度測微尺 主要特點
  • 可選新款的毛玻璃基底版
  • 雙軸設計
  • 英制和公制
  • 可選通過NIST認證的版本
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