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PV Inspector製冷型CCD
    發布時間: 2020-07-29 11:10    
Andor
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Andor iKon-M PV Inspector製冷型CCD提供極快速度和超高靈敏度性能，在 800 nm 以上提供 > 90% 的 QE 值。在標準背照式 CCD 和 EMCCD 相機中，近紅外光(NIR)在感測器內反射會導致干涉圖案，這會顯著降低 MTF，從而降低圖像的解析度。 PV Inspector 配備了深空乏(Deep depleted)感測器，該感測器採用了幾乎能完全消除邊緣的抑制技術。1024 x 1024 陣列擁有 13 μm 像素的高解析度，擁有低至可忽略不計的暗電流，且熱電冷卻(TE cooling)可至 -70°C。 PV Inspector 通過高達 5 MHz 的快速讀出速度，結合獨特的“雙曝光環模式”，允許快速曝光切換，無需重新編程。可鎖定的 USB 2.0 端口確保安全且抗振連接。 PV Inspector 非常適合執行速度非常快的 PV 檢測系統，如 Stringers 和 Cell Sorters等。
PV Inspector製冷型CCD 特點
  • TE cooling可至 -70°C
  • QE > 90% 超過 800 nm
  • 5 MHz 和 3 MHz 讀出速度
  • 雙曝光環模式
  • 邊緣抑制技術
  • UltraVac™
PV Inspector 應用：
  • 電致發光檢測
  • 光致發光檢測
  • 太陽能電池檢測
  • 機器視覺
PV Inspector
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