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TTT-Kerr Microscope光磁克爾綜合測試平台
發布時間: 2020-08-25 11:31
TuoTuo
相較於傳統的單點磁滯迴線測量儀，光磁克爾綜合測試平台，可以追踪平面內數百萬點的實時磁性動態信息。結合該測試平台提供的直流探針，高頻探針，樣品的測試無比的便捷。當下自旋電子學或磁學的研究，已經由磁性驅動的翻轉，發展到了直流電流驅動、脈衝電流驅動、微波脈衝驅動、光驅動等一系列的激勵源作用下的深度研究。
TuoTuo提供的標準系統按照性能優先，穩定性優先的設計思路，可以滿足實驗室研究及工業生產中各種相關材料的測試需求。標准設備中提供了磁場激勵、電流激勵等多種選項，是客戶在自旋特性研究中的得力測試平台。更多的選項可以根據客戶需求選擇升級。
TTT-Kerr Microscope光磁克爾綜合測試平台 主要參數
- 設備平台：氣動懸浮光學平台
- 光學主體：卡爾蔡司顯微鏡主體，目鏡+相機觀測可換，高精度自動檢偏模組，高精度電動聚焦模組，超長焦物鏡
- 系統光源¹：高功率智能光源模組，入射角、波長、亮度、頻率分區可控，多色彩光特可選；光源位置、聚焦可調。
- 磁場²：垂直磁性(最高1.2T)；面內磁場(最高0.8T)
- 電學儀表³：Keithlye 6221, Keithley 2400, Tetronics微波源
- 探針：DC,高頻探針，按照客戶需求選配
- 占地面積(含機櫃)⁴：2000mm×1500mm
1、光源模組為TuoTuo專利產品
2、磁場強度、類型、維度可訂製
3、設備可配置多種電學儀表
4、設備尺寸依照客戶訂製需求含有較大差異
TTT-Kerr Microscope光磁克爾綜合測試平台 特點
- 高質量磁疇成像
- 多激勵源/多功能測試平台
- 高穩定性，操作便捷
- 鐵磁性/亞鐵磁性薄膜
- 電流驅動的磁性翻轉
- 二維材料的自旋特性研究
服務熱線：886-2-2655-2200 業務咨詢：151 / 維修校正：185
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