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Beam Sampler光束取樣片
    發布時間: 2020-09-18 11:11    
HOLOOR
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光束取樣片(beam samplers)被使用來監控高功率的雷射。此產品用來產生第零階的高功率繞射點、與周圍兩個第一階(+1.-1)的次功率繞射點。依照客戶的需求可為您設計兩個一階繞射點與零階繞射點的功率比，用來監控高功率的雷射穩定性。
Beam Sampler光束取樣片 主要參數
  • 材料：熔融石英，ZnSe，鍺
  • 波長範圍：193nm 至10.6um
  • DOE設計：2級（二進制）
  • 衍射效率：〜99％（取決於採樣率)
  • 元件大小：幾毫米到100毫米
  • 塗層（可選）：AR/AR Coating 增透膜
  • 訂製設計：自定義採樣率和分離角度
Beam Sampler光束取樣片 特點：
  • 適用於單模或多模輸入光束
  • 高功率閾值
  • 輸入光束形狀的精確複製
  • 自定義採樣率和分離角度
  • 從紫外到紅外的波長
  • 對XYZ位移和光束大小不敏感
Beam Sampler光束取樣片 應用：
  • 監控
  • 內聯光束輪廓儀
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