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低溫/磁場相容的微區光譜測試系統
    發布時間: 2024-11-06 16:44    
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低溫/磁場相容的微區光譜測試系統 MAPS-LTMS系列

低溫/磁場相容的微區光譜測試系統 MAPS-LTMS系列支援最高12 T磁場,低至2.8 K環境下的微區光學測試。包括螢光,螢光壽命,反射光譜,拉曼光譜,偏振分辨二次諧波,光電流,磁光克爾與反射磁圓二色。主要應用於磁性二維材料或磁性薄膜材料與元件的磁性表徵,居里溫度表徵,表面拓樸磁結構表徵,磁疇掃描成像。
與電學測試相比,磁光測試具有微米級的空間分辨能力,因此適用於需要高空間分辨的應用,例如二維材料不同區域的磁性表徵與對比,磁疇掃描成像。此外,由於其無接觸非損傷的特性,測量過程簡潔且有效率且不干擾樣品本身的物理特性。因此磁光測試甚至能夠在樣品進行多工序製備的每一步過程中進行表徵,而不會幹擾樣品的製備流程。例如在製備多層異質接面時,逐步堆疊上層材料,分別測試每一層堆疊後的樣品性質變化。
由於光學手段不依賴電流,因此,它能輔助電學實驗獲得更準確的實驗結果。例如在電流導致的某些物理特性測試中,採用霍爾方法將不可避免的給樣品施加電流。而光學手段則能夠將測試和電流兩個量分離,準確的得到不同電流下樣品的磁性特性。 無需製備電極,給某些空氣或應力敏感的樣品提供了更便捷的測試手段。結合眾韋光電的光學密封轉移樣品盒,能夠實現從手套箱至磁鐵中測試的全流程樣品的氣氛保護。我們為螺線管式和劈裂式這兩種類型超導磁體分別設計了微區磁光測試解決方案:
可磁場/低溫適配的功能模組
· 反射光譜;
· 拉曼/螢光;
· 螢光壽命;
· 二次諧波;
· 磁光克爾/反射磁圓二色;
· 光電流/霍爾效應;
· 角分辨。

低溫/磁場相容的微區光譜測試系統
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