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測量三階光學非線性的Z掃描系統
    發布時間: 2024-11-06 16:50    
Zolix
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測量三階光學非線性的Z掃描系統 MAPS-Zscan系列

Z掃描測量系統,可用於研究光子材料的三階非線性吸收特性,三階非線性折射,三階非線性極化率及單光子/雙光子品質因子。此系統將工控機、馬達控制器、Z掃描光路高度集成,設備佔地小且方便移動。將樣品放置好後,按操作說明可進行一鍵全自動測量。
應用場景
表徵非線性光學材料的三階非線性光學特性,包括三階非線性吸收係數和三階非線性折射,三階非線性極化率及單光子/雙光子品質因子。
·鈮酸鋰、ZnO等薄膜材料;
·貴金屬奈米結構溶液或薄膜材料;
· 二維材料(TMDs、鈣鈦礦等)薄膜。
測量三階光學非線性的Z掃描系統
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