產品中心
軟X射線遠紫外增強光電探測二極體
    發布時間: 2020-06-05 14:55    
OSI
OSI

軟X射線遠紫外增強光電探測二極體-Soft X-Ray, Deep UV Enhanced Photodiodes

在不使用任何閃爍體晶體或屏幕的情況下,在電磁光譜的X射線區域內提高靈敏度。在200 nm至0.07 nm(6 eV至17,600 eV)的寬靈敏度範圍內,每3.63eV入射能量產生一個電子-空穴對,對應於Eph / 3.63eV預測的極高的穩定量子效率。對於17.6 keV以上的輻射能量的測量,請參閱“fully Depleted High Speed and High Energy Radiation Detectors”部分。可以施加反向偏置以減小電容並提高響應速度。在無偏模式下,這些檢測器可用於要求低噪聲和低漂移的應用。這些檢測器也是檢測350至100 nm之間的光波長的絕佳選擇。
軟X射線遠紫外增強光電探測二極體 型號
XUV系列-金屬封裝:XUV-005、XUV-020、XUV-035、XUV-100
XUV系列-陶瓷封裝:XUV-50C、XUV-100C
軟X射線遠紫外增強光電探測二極體 特點
  • 直接探測
  • 無需偏置
  • 高量子效率
  • 低噪聲
  • 高真空/低溫兼容
  • 0.070 nm至1100 nm波長範圍
軟X射線遠紫外增強光電探測二極體 應用
  • 電子探測
  • 醫療儀器 
  • 放射量測定
  • 輻射監測
  • X射線光譜
  • 帶電粒子探測
軟X射線遠紫外增強光電探測二極體(Soft X-Ray, Far UV Enhanced Photodiodes)
服務熱線:886-2-2655-2200  業務咨詢:151 / 維修校正:185
名稱描述內容

【關鍵字搜索

請於欄位下方先點選"內容"

當前位置: