JAW Ellipsometer 橢圓偏光儀

國家：美國

J.A.Woollam Co,Inc.橢圓儀﹙JAW Ellipsometer﹚專精於全光譜橢圓偏光儀的生產，橢圓儀、光譜反射式膜厚量測儀用以量測薄膜的膜厚及折射率(n)、消光系數(k)等。材質包含各種類型如 : 介電材質、半導體、金屬材料、有機材料、太陽能電池等。依產品需求，提供真空紫外到紅外光譜，並有自動位移平台、溫控、聚焦、液態樣品槽等配件可選。