穆勒矩陣光譜橢偏儀

穆勒矩陣能夠用來描述光在光學元件或研究樣品中如何被改變的數學。它描述了光強度（輻照度）和極化變化，包括總極化的減少。穆勒矩陣光譜橢偏儀測量方式最近在光學和半導體應用中日益受到青睞，作為表徵複雜樣品結構和各向異性材料的有效手段。儘管這種方法並不新穎，但其最近擴展到新領域，使許多用戶只對他們收集的數據有著基本的理解。本教程概述了穆勒矩陣光譜橢圓度測量，並聚焦於對該技術的實用案例。