Lumetrics 非接觸式膜厚量測技術與工業應用

Lumetrics 非接觸式膜厚量測技術與工業應用

  • 核心技術： 採用光學干涉原理（OptiGauge 系列），進行精確且非接觸式的即時量測。
  • 多層分析： 具備同時測量多層材料各層厚度（包含外層與內層）的能力，無需破壞樣本。
  • 應用領域： 廣泛應用於醫療管材、眼科鏡片、半導體晶圓、軟性包裝及工業薄膜。
  • 製程優勢： 支援在線監控（In-line），有助於提高產品良率、減少廢料並優化生產流程。

產品連結：非接觸式厚度測量儀OptiGauge II
     
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