BeamWatch® AM-3增材製造光束分析儀，用於偵測焦距偏移、功率和表徵
來源: 作者: titan 發布時間: 2026-06-03 11:25 20 次瀏覽
【Ophir宣佈推出BeamWatch® AM-3增材製造光束分析儀，用於偵測焦距偏移、功率和表徵，精度可達35 µm】
配備更高靈敏度、更高解析度的相機，能更快進行測量，能偵測焦距偏移、聚焦點特性分析至35微米，並能同時使用高功率與中功率光束。
F閱讀全文
BeamWatch®AM-3 光束分析儀
配備更高靈敏度、更高解析度的相機，能更快進行測量，能偵測焦距偏移、聚焦點特性分析至35微米，並能同時使用高功率與中功率光束。
F閱讀全文
BeamWatch®AM-3 光束分析儀 最新消息
3
UA-24279210-1---
服務熱線：886-2-2655-2200 業務咨詢：151 / 維修校正：185
產品
文章
搜索
名稱描述內容
【關鍵字搜索】：
請於欄位下方先點選"內容"
當前位置：