OPHIR 在 CPO共封裝光學元件產業的關鍵角色
Ophir

OPHIR 在 CPO共封裝光學元件產業的關鍵角色

研發與製造CPO(Co-Packaged Optics)元件(如矽光子晶片、雷射光源)需極度精密的光電校準與量測。 而Ophir的雷射光斑分析儀,用於分析高功率光纖雷射系統中的光斑形狀、發散角及品質因子 M²,協助工程師確保雷射光源符合 CPO 應用需求。
而Ophir最新推出的SP301Q CQD 雷射光斑分析儀對於許多工程師和系統整合商而言,取得高品質的短波紅外線 (SWIR) 光斑分析資料歷來需要昂貴且受出口管制限制的相機技術。為了彌補這一差距,Ophir推出了SP301Q 膠體量子點 (CQD) 光束分析儀,這是一款新一代解決方案,旨在以更易於使用且經濟高效的平台,在可見光、近紅外線 (NIR) 和短波紅外線 (SWIR) 波段提供高性能。

SP301Q雷射光束分析儀 Laser Beam AnalysisSP301Q雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-近紅外光斑分析
有關詳細資訊,請參閱OPHIR Blog
     
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