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SP301Q雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-近紅外光斑分析
    發布時間: 2026-02-03 11:57    
Ophir
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BGP‑GigE‑SP301Q雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-近紅外光斑分析

BGP-GigE-SP301Q(SP90659) 雷射光束分析儀相機採用膠狀量子點(colloidal quantum dot)CQD) 感測器，可在寬波長範圍內提供卓越的解析度，並能表現出雷射的精確特性。這項先進功能使其成為精密材料加工、自動駕駛車輛光達、遙感、光通訊和軍事系統等高要求應用的理想選擇。
SP301Q雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-近紅外光斑分析 特點
  • 符合ISO標準
  • 採用獲得專利技術的UltraCal演算法，最高精度的測量儀
  • 採用“自動設置”和“自動曝光”功能進行快速設置和精度優化
  • 不受限制可全球銷售
SP301Q雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-近紅外光斑分析 測量參數
  • 光斑形狀/尺寸大小
  • 二維/三維空間強度分佈
  • 直徑D4α(D4αM長軸/D4αm短軸)
  • 質心位置(X,Y座標)
  • 長寬比
  • 峰值位置
  • 發散角量測
SP301Q雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-近紅外光斑分析 主要參數
  • Wavelengths：400-1700 nm
  • 640 x 512-pixel resolution with a 15 μm pitch
  • Interface：USB 3.0
  • GigE communication interface
  • BeamGage Professional software included
BGP‑GigE‑SP301Q雷射光束分析儀
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