MKS宣佈推出新款Ophir®膠狀量子點（CQD）雷射光束分析儀

Ophir SP301Q雷射光束分析儀旨在解決高成本、ITAR控制的相機的侷限性，它使用膠狀量子點（CQD）感測器，為昂貴的InGaAs感測器提供了具有成本效益的替代方案，同時提供可比的精度和解析度。新的雷射光束分析提供高靈敏度、寬動態範圍和快速快門速度，用於詳細分析雷射形狀、尺寸和功率。它專為精密材料加工、自動駕駛汽車雷射雷達、遙感、光通訊和軍事應用而設計。

SP301Q雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-近紅外光斑分析