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Reticle Calibration Stage Micrometer
    發布時間: 2020-06-04 16:44    
Edmund
Edmund
Reticle Calibration Stage Micrometer有一系列的“H”形基準圖像，尺寸從0.1到20mm，採用耐磨的鍍鉻膜層，OD光密度> 2.0，基底材料為25 x 75 x 1.4mm，可用NIST追踪碼查詢測試數據。
型號：#59-280,#59-281
Reticle Calibration Stage Micrometer 主要參數
  • 尺寸：25.4 x 76.2 ±0.100（mm）
  • 圖案長度：0.1-20.0（mm）
  • 厚度：1.52 ±0.100（mm）
  • 光學密度OD：> 2.0
  • 表面質量：60-40
  • 基底：Durable Chromium Coating on Glass
Reticle Calibration Stage Micrometer 主要特點
  • 具有一系列“ H”形基準圖像
  • 圖像尺寸從0.1到20mm
  • NIST可追踪查詢數據
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