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SP204S雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis
    發布時間: 2025-03-05 11:14    
Ophir
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SP204S雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis

Laser Beam Analysis SP204S 雷射光束分析儀(Beam Profiler)可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長。USB 3.0介面Global Shutter CMOS相機，設計緊湊、高解析度和最快的幀率相機，並具有極為出色的信噪比，使其成為Laser Beam Analysis測量CW和脈衝雷射的理想選擇。
  • 2472 x 2064像素分辨率，含2.74µm像素間距
  • 全分辨率下為37 fps
  • 包括BeamGage標準或專業軟體
  • 需要Win 10，64 bit或更高版本

SP204S雷射光束分析儀 主要特點

  • 符合ISO標準
  • 採用獲得專利技術的UltraCal演算法，最高精度的測量儀
  • 採用“自動設置”和“自動曝光”功能進行快速設置和精度優化
SP204S雷射光束分析儀 測量參數
 ．光斑形狀/尺寸大小
．二維/三維空間強度分佈
．直徑D4α(D4αM長軸/D4αm短軸)
．質心位置(X,Y座標)
．長寬比
．峰值位置
．發散角量測

SP204S雷射光束分析儀 主要參數

  • Wavelengths：190-1100nm
  • Beam Sizes：27.4.5μm – 5.7mm
  • Interface：USB 3.0
  • Sensor Type：Silicon CMOS
  • Compatible Light Sources：CW, Pulsed
SP402S光束分析儀-beamgage
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