產品中心
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Ge/3.5/1.8
    發布時間: 2025-07-30 15:26    
Ophir
Ophir
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀NS2s-Ge/3.5/1.8-STD(PH00459)NS2s-Ge/3.5/1.8-PRO(PH00467):鍺探測器,3.5mm狹縫,1.8µm NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其鍺探測器,精確捕獲和分析700nm-1800nm的波長。 該分析儀包括適合於小光束的狹縫尺寸,近實時數據捕獲率,可選的功率測量功能等特徵,且可在連續或kHz脈衝模式下工作,非常適合於對IR和NIR雷射進行全面分析。
  • 光束尺寸7µm至〜2.3mm
  • 功率級範圍為10nW至〜10W
  • USB 2.0介面
  • 包含NanoScan標準或專業軟體
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Ge/3.5/1.8 主要參數
  • Wavelengths:700-1800nm
  • Beam Sizes:7μm - 2.3mm
  • Interface:USB 2.0
  • Sensor Type:Germanium Photodetector
  • Compatible Light Sources:CW, Pulsed >25kHz
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Ge/3.5/1.8
服務熱線:886-2-2655-2200  業務咨詢:151 / 維修校正:185
名稱描述內容

【關鍵字搜索

請於欄位下方先點選"內容"

當前位置: