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iKon-M SO X- Ray相機
    發布時間: 2020-07-29 16:43    
Andor
Andor
Andor ikon-M SO高能X-Ray相機,搭載 > 95% QE 背照式感測器,並且有極低噪聲讀出,以及可低至 -100°C深度 TE 制冷,提供最出色的靈敏度性能。具有高解析度 1 Megapixel感測器,具有 13µm像素尺寸,可在 VUV 和軟 X 射線範圍內同時進行高動態範圍和高空間解析度成像。提供便利的 16 點、刀口密封 6 英寸可旋轉 CF-152 法蘭可搭配任何兼容的真空室接口,提供最堅固且最高效的密封。 iKon-M還提供 USB2.0接口和 Labview 或 EPICS 軟體兼容性,可無縫集成到複雜的設置中。用途廣泛,可安裝於Andor Kymera光譜儀和Andor Shamrock光譜儀實現多種功能。
iKon-M SO X-Ray相機 特點
  • 1 Megapixel感測器
  • 高達95% QE值 (soft x-ray region)
  • 高解析度 13x13µm 像素尺寸
  • TE-cooling 低至 -100°C
  • 讀取噪聲接近 2.9 e-
  • Labview and EPICS 兼容性
iKon-M SO X-Ray相機 應用
  • VUV/EUV/XUV Imaging
  • X-Ray Imaging X射線成像
  • X-Ray Microscopy X射線顯微鏡
  • X-Ray Diffraction X射線衍射 (XRD)
  • X-Ray Plasma Imaging X射線電漿成像
  • X-Ray source characterization X 射線源表徵
  • X-Ray Phase Contrast Imaging X 射線相襯成像
  • X-Ray Tomography X 射線斷層掃描
  • High Harmonic Generation 高次諧波產生 (HHG)
  • Crystallography 晶體學
iKon-M SO
服務熱線:886-2-2655-2200  業務咨詢:151 / 維修校正:185
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