狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8
發布時間: 2021-05-11 11:34
Ophir
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:矽探測器,3.5mm狹縫,1.8µm NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過其矽探測器,精確捕獲和分析190nm-1100nm的波長。
該分析儀包括適合於小光束的狹縫尺寸,近實時數據捕獲率,可選的功率測量功能等特徵,且可在連續或kHz脈沖模式下工作,非常適合於對UV,VIS和NIR雷射進行全面分析。
-
光束尺寸7µm至〜2.3mm
-
功率級範圍為〜10nW至〜10W
-
USB 2.0介面
-
包含NanoScan標準或專業軟體
狹縫光束分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8 主要參數
-
Wavelengths:190-1100nm
-
Beam Sizes:7μm - 2.3mm
-
Interface:USB 2.0
-
Sensor Type:Silicon
-
Compatible Light Sources:CW, Pulsed >25kHz
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀NanoScan 2s Si/3.5/1.8