全自動顯微角分辨光譜及成像系統-MARS系列

角分辨光譜儀具有在不同角度下探測材料光譜性質的能力，突破傳統光譜技術不能分辨角度的局限，是獲取光子材料色散關係，實現光學性質「全面表徵」的重要手段，在微納光子學、低維材料、發光材料等領域具有重要應用價值。
MARS系列全自動顯微角分辨光譜及成像系統主要用於表徵經樣品透反射的白光角分辨譜（即色散關係）及表徵自身螢光或SHG發射光散射光的空間光角度分佈資訊。常見應用單分子或量子點的螢光角分辨成像及拍譜、金屬或介質的超構表面的白光角分辨成像及拍譜、金屬奈米結構@TMDs雜化強耦合交叉線型白光角分辨成像等。
全自動顯微角分辨光譜及成像系統主要參數

測量模式	全角度入射透反射模式，定角度入射透反射模式，白光角分辨光譜及成像模式，螢光角分辨光譜及成像模式。
光譜範圍	可見光波段400～1000nm（2nm光譜解析度@光纖光譜儀，1nm@150g/mm光柵@可見成像光譜儀)；900～1700nm@6nm光譜解析度@光纖光譜儀，1.5nm@150g/mm光柵@近紅外成像光譜儀)。
反射入射角度範圍	±60°(可見)，±50°（近紅外）
透射入射角度範圍	±50°(可見)，±50°（近紅外）
訊號光收集角度範圍	±60°(可見)，±50°（近紅外）
角度解析度	0.5°@50um芯線光纖@0.9NA100倍物鏡， 0.05°@50um芯線光纖@0.25NA10倍物鏡, 0.12°/pixe l@10241024面陣列CCD@0.9NA100倍物鏡, 0.028°/pixel@10241024面陣列CCD@0.25NA10倍物鏡。
定角度入射範圍角度解析度	<4°
定區域測量範圍	1um～200um@0.9NA100倍物鏡下，10um～2mm@0.25NA10倍物鏡下
雙入雙出引光口，相容空間光與光纖口收集。
實空間與動量空間電動切換，可相容角分辨螢光發射譜和共聚焦螢光譜。
全電動化操作實現樣品移動，聚焦，mapping，自動化變功率和變偏振採譜。
測試模組擴展（自選）	1）支援功能模組疊加使用：可原位測量多種光譜；多種光譜功能結合測量（如螢光角分辨拍譜及成像、暗場散射角分辨拍譜及成像等）。 2）支援的模組包含但不限於：顯微成像模組、角分辨模組、共聚焦螢光及壽命模組、透射模組、二次諧波模組、掃描振鏡模組、低波數拉曼模組、光電流模組、暗場散射模組等。 3）以上功能模組皆可配合電動二維台實現二維掃描成像 4）支援低溫台適配，可依需求提供低溫台與顯微鏡耦合機械轉接件

全自動顯微角分辨光譜及成像系統結構應用

顯微角分辨光譜是由白光源經科勒照明光路後再經物鏡產生寬場各個角度的平行光入射到樣品上；樣品上出射的各個角度的光再由物鏡收集聚焦在後焦面上，角分辨收集光路再對物鏡後焦面上的光進行成像；最終物鏡後焦面上的光點即可由光譜儀CCD面陣列成像，也可由光纖頭收集進入光譜儀採集角分辨光譜。此全自動顯微角分辨光譜及成像系統支援全電動變入射及收集角度、實空間與動量空間電動切換、最小角度0.028°，寬光譜範圍測試400-1700nm全系統採用大通光空間元件，角度光收集效率更高、可定入射收集角度，可為光子晶體、拓樸光子學、超構材料和光-物質強耦合等研究領域提供卓越的解決方案。