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反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統
    發布時間: 2024-11-06 12:15    
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反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統-MAPS-TR

標準反射/透射光譜測試系統,採用「所見即所得」的測量方式,即反射與透射測量方式均能在直接觀測樣品成像時看到測量光斑,成像與測量光路通過電機切換。標準系統可滿足紫外線/可見光/近紅外線波段的測試需求,可用於特殊波段可進行最佳化設計及光路客製化。
反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統 主要參數
測試光源 光纖耦合鹵素燈;自由空間鹵素燈(選購)
支援光譜範圍 250 nm - 850 nm;400 nm - 1100 nm;900 nm - 1700 nm
空間解析度 < 1 mm
電動位移行程 50 mm × 50 mm × 40 mm
掃描精度 < 1 mm,步進最小0.04 mm
偏振控制 電動
測量方式 反射與透射
光路切換方式 電動,軟體控制
物鏡組 5X,10X,20X,50X,100X可見光物鏡;反射式物鏡,紅外線長焦物鏡等可選
照明光源 高顯色LED面光源
光譜採集 光纖光譜儀;光柵光譜儀(選購)
軟體功能 移動視野,切換物鏡,對焦,框選掃描區域均可用滑鼠直接在影像顯示視窗操作;電動功率調整;自動光路模式切換;自動化Mapping;自動化偏振Mapping;即時處理與顯示資料。
基本功能
·白光反射譜及Mapping成像;
·白光透射譜及Mapping成像;
·電動變偏振採譜;(選購)
·適配低溫台、電學樣品台等;(選購)
·共聚焦方式與科勒照明方式;(可選)
·透射光譜無色散設計;(選購)
·入射及收集光路均可配置雙口電動切換。 (可選)
應用場景
光學材料的能階及振動強弱資訊探測
·半導體材料的帶隙探測;
·無機光學材料的吸收特性研究;
·貴金屬奈米材料的表面等離激元共振特性研究;
·光學材料的基礎光譜特性。
反射/透射光譜共聚焦掃描成像系統
服務熱線:886-2-2655-2200  業務咨詢:151 / 維修校正:185
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