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SP203P-1550光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler
    發布時間: 2020-08-11 15:21    
Ophir
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Ophir SP203P -1550 光束分析儀(光斑分析儀) Laser Beam Profiler BGS-USB3-SP203P(PN SP90636)、BGP-USB3-SP203P (PN SP90637)可以精確地捕獲並分析1440nm到1605nm的波長。設計緊湊、動態範圍寬，並具有極為出色的信噪比和USB 3.0接口，使其成為測量CW和脈衝雷射的理想選擇。
  • 1624 x 1224像素分辨率，含600μm像素間距
  • 全分辨率下為24 fps
  • 包括BeamGage標準或專業軟體
SP203P光束分析儀/光斑分析儀 特點
  • 符合ISO標準
  • 採用獲得專利技術的UltraCal演算法，最高精度的測量儀
  • 採用“自動設置”和“自動曝光”功能進行快速設置和精度優化
SP203P光束分析儀/光斑分析儀 測量參數
  • 光斑形狀/尺寸大小
  • 二維/三維空間強度分佈
  • 直徑D4α(D4αM長軸/D4αm短軸)
  • 質心位置(X,Y座標)
  • 長寬比
  • 峰值位置
  • 發散角量測
SP203P光束分析儀/光斑分析儀 主要參數
  • Wavelengths：1440nm-1605nm
  • Beam Sizes：600μm - 5.3mm
  • Interface：USB 3.0
  • Sensor Type：Phosphor-Coated Silicon CCD
  • Compatible Light Sources：CW, Pulsed
SP203P光束分析儀/光斑分析儀
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