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原子力顯微鏡-alpha300A
    發布時間: 2020-10-07 14:40    
Witec
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原子力顯微鏡-alpha300A-AFM(Atomic Force Microscope)

WITec alpha300A 原子力顯微鏡整合了科研級光學顯微鏡,可以實現高清晰的光學觀察、簡便的探針-反饋光束對準和超高分辨的樣品形貌分析,是一款可靠、高質量的納米成像系統。基於模組化的設計理念,WITec 原子力顯微鏡可以擴展其它顯微成像技術,比如共聚焦拉曼成像。所有顯微成像技術均整合在一套光學顯微鏡系統中,不同模式間的切換快速簡便,如旋轉物鏡轉輪即可。目前 AFM 耦合的功能模塊包括:發光、螢光、偏振分析、明/暗場觀察、SNOM以及拉曼成像。
alpha300A原子力顯微鏡特點:
  • 納米級形貌表徵
  • 橫向分辨率:低至 1 nm
  • 縱向分辨率:< 0.3 nm
  • 涵蓋多種 AFM 功能模式
  • 可以從任意方向掃描樣品
  • 在空氣和液體環境中均適用
  • 獨特的懸臂梁技術易於切換和準直
  • 高精度 TrueScan™ 技術控制的壓電掃描台
  • 無損成像,基本不需要樣品製備
  • 可與共聚焦拉曼成像和近場光學顯微鏡 (SNOM) 聯用
alpha300A原子力顯微鏡 應用:

AFM topography image of a fully developed sternal deposit from a woodlouse (P. scaber).

Magnetic Force Measurement of PC Hard Drive. The measurements were performed using AC mode technique with magnetic tips.

Digital Pulsed Force Mode image of fossilized bacteria. The image shows the different adhesion levels of the sample surface.
原子力顯微鏡-alpha300A
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