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SP932U雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis
    發布時間: 2022-03-02 16:13    
Ophir
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SP932U雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-光斑分析

Laser Beam Analysis SP932U 雷射光束分析儀(Beam Profiler)可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長。設計緊湊、動態範圍寬，並具有極為出色的信噪比和USB 3.0介面，使其成為Laser Beam Analysis測量CW和脈衝雷射的理想選擇。
  • 2048 x 1536像素分辨率，含3.45µm像素間距
  • 全分辨率下為24 fps
  • 包括BeamGage標準或專業軟體
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 特點
  • 符合ISO標準
  • 採用獲得專利技術的UltraCal演算法，最高精度的測量儀
  • 採用“自動設置”和“自動曝光”功能進行快速設置和精度優化
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 測量參數
  • 光斑形狀/尺寸大小
  • 二維/三維空間強度分佈
  • 直徑D4α(D4αM長軸/D4αm短軸)
  • 質心位置(X,Y座標)
  • 長寬比
  • 峰值位置
  • 發散角量測
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 主要參數
  • Wavelengths：190-1100nm
  • Beam Sizes：34.5μm – 5.3mm
  • Interface：USB 3.0
  • Sensor Type：Silicon CCD
  • Compatible Light Sources：CW, Pulsed
需要Win10(64 Bit或更高版本)
SP932U光束分析儀/光斑分析儀
先鋒科技
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