SP932U雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis
發布時間: 2022-03-02 16:13
Ophir
SP932U雷射光束分析儀-Laser Beam Analysis-光斑分析
Laser Beam Analysis SP932U 雷射光束分析儀(Beam Profiler)可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長。設計緊湊、動態範圍寬,並具有極為出色的信噪比和USB 3.0介面,使其成為Laser Beam Analysis測量CW和脈衝雷射的理想選擇。
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2048 x 1536像素分辨率,含3.45µm像素間距
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全分辨率下為24 fps
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包括BeamGage標準或專業軟體
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 特點
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符合ISO標準
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採用獲得專利技術的UltraCal演算法,最高精度的測量儀
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採用“自動設置”和“自動曝光”功能進行快速設置和精度優化
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 測量參數
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光斑形狀/尺寸大小
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二維/三維空間強度分佈
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直徑D4α(D4αM長軸/D4αm短軸)
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質心位置(X,Y座標)
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長寬比
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峰值位置
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發散角量測
SP932U光束分析儀/光斑分析儀 主要參數
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Wavelengths:190-1100nm
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Beam Sizes:34.5μm – 5.3mm
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Interface:USB 3.0
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Sensor Type:Silicon CCD
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Compatible Light Sources:CW, Pulsed
需要Win10(64 Bit或更高版本)
SP932U光束分析儀/光斑分析儀