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ParticleScout顆粒分析工具
    發布時間: 2022-04-08 15:29    
Witec
Witec
WITec 3D 拉曼成像系統,現在可配備先進的顆粒分析工具了
ParticleScout 顆粒分析工具可以對大面積樣品內的顆粒進行測量、分類、分析、定量和識別。它不僅可對樣品進行全貌分析,還能結合單顆粒的精準化學表徵來實現用戶自定義的目標顆粒歸類及搜索等針對性研究。測試結果能詳細呈現與樣品特性有關的綜合信息。 ParticleScout 依托 WITec 拉曼成像系統的快速、高靈敏度和高分辨率優勢,實現快速、無縫的顆粒分析。
ParticleScout顆粒分析工具 特點

增強樣品測量和粒子可視化能力:明場/暗場、圖像拼接及景深合成。
ParticleScout 具備靈活及實用的樣本研究能力
共聚焦白光顯微鏡:明場/暗場、透射/反射;
物鏡選擇:可以利用不同的物鏡對樣品進行觀測與拉曼測量,如初始大範圍觀測及高分辨拉曼光譜測量;
圖像拼接:全自動大範圍樣品拼接以觀測廣泛分佈的顆粒;
景深合成:這一獨特功能使不同焦平面顆粒的觀察變得十分清晰。
先進的分類工具使相關粒子的篩選變得前所未有的容易
用戶可根據顆粒的形狀、大小及其他性質對顆粒進行自定義的分類。
.分類依據:面積、周長、邊界框、最大直徑、最小直徑、長寬比、當量直徑等;
.利用布爾濾波器進行精確分組;
.自動生成用於後續拉曼分析的掩碼。

可通過濾波器選擇大範圍的顆粒特性,用於隨後的拉曼分析。
搭載 ParticleScout 的拉曼顯微鏡可以直接對顆粒進行快速且高效的識別
ParticleScout 可以充分利用拉曼成像在快速、無標記和無損化學表徵方面的優勢,進而加快研究人員的工作進程。通過與 WITec TrueMatch 拉曼數據庫管理軟件的無縫結合,用戶可以根據顆粒的組成成分建立顆粒目錄;可以將成分與顆粒的大小或長寬比等物理屬性相關聯,並生成檢測報告;還可以對樣本中的特定粒子進行量化分析。
完整的數據報告是發現顆粒物理與化學屬性之間相關性的完美工具
用戶自定義篩選器可以突出顯示具有某些特徵的粒子的數量與其他粒子的相關性,亦可依用戶研究目的自定義報告。從大面積成像到高分辨率光譜,以顆粒分析為基礎的技術能夠為研究人員提供更全面且詳細的信息。


ParticleScout 升級新功能
2021年,ParticleScout 新功能進一步擴展升級。
.光譜採集時間優化——縮短測量時間,同時最大限度地降低螢光的影響。
.圖像邊緣校正——保障光學圖像的亮度均勻和顆粒分析的準確性。
.智能縮放 - 根據測量區域動態顯示顆粒信息。
.樣品區域定位——測量時也可以同時定位多個目標樣品。
.多種照明方式——暗場、明場、熒光和透射樣品照明,為顆粒分析提供最佳解決方案。
.圓形分析圖——可允許標準圓形分析法進行數據採集,可以靈活調節圓形分析區域尺寸,直至整個樣品。
.顆粒智能分離——準確區分非均質密集堆積樣品。
.定量報告格式——通過表格、條形圖直方圖和餅圖等模板,簡潔明了地呈現測量數據。

ParticleScout顆粒分析工具 應用
環境科學
在污染和環境分析的研究中,ParticleScout 是一個重要的工具,可以加速諸如微塑料和工業廢料等材料的特性表徵。
食品工藝
ParticleScout 非常適合於食品生產用水及原料的成分分析。測量圖片為泡打粉顆粒。
製藥領域
藥物遞送系統的研發需要了解源材料及最終產品中的顆粒特性。 ParticleScout 能夠為研究實驗室及質控部門提供廣泛的報告。
化妝品
顆粒分析研究是化妝品新產品開發與認證的關鍵步驟。測量圖片顯示的是脫皮奶油中的顆粒根據幾個參數進行分類的結果。
工業應用
可以應用於生產過程及超淨間維護過程中粉塵及殘留物的監測。
地質科學
在進行自然資源調查、岩芯材料表徵或沉積物分析時,礦物粉末的組成和顆粒分析能夠提供重要的信息。
ParticleScout顆粒分析工具
服務熱線:886-2-2655-2200  業務咨詢:151 / 維修校正:185
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