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NIR近紅外光視角量測VCPROBE-NIR-STG
    發布時間: 2024-02-06 15:23    
ELDIM
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NIR近紅外光視角量測VCPROBE-NIR-STG ∣ Viewing Angle NIR

Viewing Angle NIR/近紅外光視角量測 VCProbe-NIR-STG 針對分析具有NIR發射光的DUT進行了最佳化。旨在精確測量照明器、立體成像、結構光照明組件的特性。VCProbe-NIR-STG非常適合測量小孔徑NIR源，並為LED和雷射等近紅外線源提供高效的測量解決方案。該系統可在±70°視角錐內提供完整分佈圖，並具有出色的角分辨率，工作距離為4mm，可實現非接觸式測量。
建議用於 2.5 mm 出光口發射器。DXY +/-1毫米餘裕可達到優於1%的重複性，以便於線上定位。VCProbe-NIR-STG 在940nm波長下進行校準，可為研發以及大量生產/QC應用提供高速、準確的測量。
如果您需要類似的系統用於特殊專案或大量生產，我們可以建立滿足您要求的系統。

NIR近紅外光視角量測VCPROBE-NIR-STG特點

• 波長校準為940nm

NIR近紅外光視角量測VCPROBE-NIR-STG應用

• 臉部辨識
• 研發及量產/QC
• 3D 感測與成像
應用領域：
在成熟和創新技術日益增長的市場中，Eldim的兩款新設備VCProbe-NIR-DSD和VCProbe-NIR-STG將成為VCSEL和LIDAR組件等3D感測技術所有測量的關鍵點。這些系統可以為研發以及大量生產/品質控制應用提供高速、準確的測量。
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