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OptiGauge MIR光學計量系統
    發布時間: 2025-01-08 16:04    
Lumetrics
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OptiGauge MIR光學計量系統

OptiGauge MIR 光學計量系統是Lumetrics光學計量解決方案的最新進展。OptiGauge MIR 光學計量系統系統的開發源自客戶需求,旨在測量那些在中紅外線 (MIR) 頻段中透明,但在可見光至近紅外線 (NIR) 光譜中不透明的先進材料。在OptiGauge MIR系統問世之前,市場上缺乏適用於國防、半導體、醫療、太空及其他高端應用的商用光學計量系統。
OptiGauge MIR 系統能夠測量多種材料,包括:
• 矽
• 硫系玻璃
• 鍺
• 砷化鎵
• 奈米複合光學陶瓷
• 碲化鎘

技術概述

OptiGauge MIR 系統採用了 Lumetrics 經過驗證的低相干干涉測量方法,但與 OptiGauge II 在 1310nm 波長下進行測量不同,OptiGauge MIR 系統使用的是 2.8μm 的波長。OptiGauge MIR 系統可測量最高達 40mm 的光學厚度材料。材料厚度測量和光學路徑長度取決於群折射率(GRI)。要確定特定材料的最大厚度能力,需要將光學厚度除以 GRI。
例如,鍺在 2.8μm 波長下的 GRI 為 4.1161。因此,OptiGauge MIR 系統可以測量厚度最高可達 10mm 的鍺材料。OptiGauge MIR 系統以非破壞性方式測量材料,與其他方法相比,能有效減少浪費,從而帶來正面的經濟效益。
OptiGauge MIR光學計量系統
服務熱線:886-2-2655-2200  業務咨詢:151 / 維修校正:185
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