QST/Quantum Scanning Tips(量子掃描探針)

QST/Quantum Scanning Tips(量子掃描探針) 特點

• 核心感測器：每支探針以單一 NV 中心作為感測元件，位於金剛石尖端約 10 nm 深處，搭配調諧叉 (tuning fork) 支援 AFM 掃描功能，並以陶瓷載板封裝，使用方便且經過完整校正。
• 雙柱結構選項：提供「double pillar tips」，包含一根帶單一 NV 和多 NV 的光耦合柱，可同時在不同位置量測樣品磁場向量與偏置磁場，為美國客戶唯一可選結構，並涵蓋專利。
• 整合微波天線選擇：提供內建對齊微波天線的探針，節省安裝空間與時間，且能避免探針意外坍折 。

QST 技術規格

• 光強度與對比度：ODMR 對比度 15–27%、飽和計數率達 0.6–1.2 Mcps。
• 相干時間 (T₂)：平均 Hahn echo 或 XY echo 為 1–4 μs。
• 磁場靈敏度：cw ODMR 靈敏度為 1–7 μT/√Hz（依 Q2 Q8 品質級別）。

QST 品質分級

QST 定製化特性與佈局

• 晶向可選：提供、、晶格方向選擇，以決定 NV 軸與樣品表面的夾角。
• 探針朝向：UP 或 DOWN 配置，兼容狹縫空間與 Akiyama 探針接口。
• 載板封裝：真空與低溫兼容，探針位於陶瓷板上並含微波走線，可用於 cryo 或常溫環境 。

QST 選購與支援