雙PEM研究級Stokes偏振計

Hinds Instruments的Stokes偏振計系統提供無與倫比的靈敏度，用於測量光束或光源的偏振狀態。我們的雙PEM Stokes偏振計採用堅固且精進的技術，通過單次測量即可量化所有四個標準化的Stokes向量，無需移動部件。其出色的靈敏度、重複性與簡單的操作方式，使雙PEM Stokes偏振計平台成為光學元件表徵、天文學、光纖研究與製造，以及雷射品質控制等挑戰性應用的不可或缺工具。
- Research Grade
- No moving parts
- No imprecise, noise-generating rotators
- High speed modulation ( > 40 kHz )
- Fast: > 100 normalized Stokes parameter sets per second
- Instantaneous, simultaneous complete data capture and display
測量光源可以來自雷射、光纖、寬頻光源或天體（如太陽或恆星）。該系統能夠測量並即時顯示每個標準化Stokes參數的值，以及在龐加萊球（Poincaré Sphere）上的位置。顯示內容包括偏振度（DOP）、線性偏振度（DOLP）和圓偏振度（DOCP）。此一站式系統包括光學和電子元件於單一模組、完整的軟體套件，以及配備顯示器的電腦。該系統利用兩個光彈調製器（PEMs），通過單次測量生成所有四個Stokes參數。提供多種標準選項，包括適用於單一波長或光譜測量的版本。系統支援可見光、近紅外（NIR）、紅外（IR）和紫外（UV）波段。軟體套件設計用於校準PEM以適應波長變化，並提供光纖輸入選項。電子訊號通過鎖相放大器進行處理。

雙PEM研究級Stokes偏振計特點

Hardware Features

Dual photoelastic modulator technology
No moving components
Fast and simultaneous measurement of all Stokes parameters

Software Features

Real time display of all normalized Stokes parameters
DOP, DOCP and DOLP
Poincaré sphere and polarization ellipse
Statistical analysis
Wavelength selection
Measurement points selection and display
Data archiving

雙PEM研究級Stokes偏振計通用參數

	UV System	VIS System	NIR1 System	NIR2 System
Wavelength Range	180 nm - 400 nm	350 nm - 1000 nm	800 nm - 1600nm	1600nm - 2.6 µm
Stokes parameter accuracy	0.01	0.005	0.01	Contact us
Stokes parameter sensitivity	0.0005	0.0005	0.0005	Contact us
Repeatability	3-sigma <= 0.01	3-sigma <= 0.0035	3-sigma <= 0.01	Contact us