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研究級Mueller偏振計
    發布時間: 2025-07-29 08:57    
Hinds Instruments
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研究級Mueller偏振計

Hinds Instruments推出最新且最先進的Mueller矩陣偏振計系統，專為需要超高靈敏度和重複性的挑戰性研究及工業製程應用而設計，能精確區分特定的低階Mueller矩陣元素。由我們的應用研究小組與紐約大學Kahr小組合作開發的Exicor® XT系列4 PEM Mueller偏振計系統，為光學研究、晶體研究、平板顯示器和光學光刻應用的領先客戶提供了同類最佳的解決方案。這些應用包括以下測量需求：
- 所有16個Mueller矩陣元素
- 低階線性和圓形遲滯，兩者之間交互作用極小
- 深紫外（DUV）光的所有6個偏振參數（線性遲滯 - 大小和角度；圓形遲滯 - 大小；線性雙折射 - 大小和角度；圓形雙折射 - 大小），兩者之間交互作用極小
- 線性和圓形遲滯，其中兩者之間存在顯著交互作用

研究級Mueller偏振計 特點

  • Simultaneous measurements of all 16 Mueller matrix elements
  • Determination of all polarization parameters and estimation for depolarization
  • Highest available sensitivity
  • Laboratory grade repeatability
  • Customization for polarization properties of interest available on request
  • Minimal wavelength restrictions (DUV to IR)
  • Normal incident and oblique incident angle capability
  • Floor mount or bench top design, with flexible stages for adding custom part holders
  • Measurement cycle times appropriate for production processes
  • Software packages with extensive data analysis features
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