Spectra-RGB Precision Reference Sources
發布時間: 2026-08-12 10:53
Labsphere
Spectra-RGB Precision Reference Sources 標準光源
Labsphere 推出的高亮度RGB均勻光源 Spectra-RGB Precision Reference Sources 精密標準光源是專為 AR 波導顯示器與影像色度計校準所設計的高性能設備。利用專利的 Spectralon® 漫反射材料與熱控技術,提供高達 2,000,000 nits 的卓越亮度與極高的光譜穩定性。透過精確匹配 RGB 峰值波長,此光源能有效減少量測誤差,確保窄頻雷射或 microLED 設備的數據準確性。其設計具備快速穩定與高均勻度的特性,無論在研發實驗室或自動化生產測試環境中都能展現優異的重現性。使用者可透過直覺的軟體介面自定義測試程序,實現長期的系統性能優化與監控。
Spectra-RGB Precision Reference Sources 特點
極高亮度(Bright) :提供高達 2,000,000 nits 的亮度,在 6500K CCT 下,亮度調整範圍可達 50 至 2,000,000 nits。
優異的均勻性(Uniform) :具備同級最佳的 96%+ 均勻性。在 90% 清晰孔徑下評估,其空間亮度均勻性大於 97%;在 ± 30° 範圍內(於中心評估),其角度亮度均勻性則達到 96%。
出色的穩定性(Stable) :波長穩定性(± 5 nm)與亮度穩定性(± 2%)均為同級最佳。在穩定狀態下,1 小時內的峰值波長穩定性 < 1 nm;短期亮度穩定性為 ± 1.0% P-P(1 分鐘),長期亮度穩定性為 ± 2.0% P-P(1 小時)。
快速設定(Fast) :系統僅需 1 秒 的穩定時間(settling time)。
降低量測誤差 :藉由精密峰值匹配與光譜穩定性,減少標準色度計濾光片固有的斜率誤差。透過最佳擬合對準與波長穩定性,確保光譜失配修正方法依然有效,從而為窄頻雷射和 microLED 元件提供準確的性能數據。
專利材料與硬體設計 :採用 Labsphere 專有的 Spectralon® 漫反射材料、經過篩選與分級(screened and binned)的 LED 光源,以及溫控光機,確保長期的重複性與再現性。系統亦整合了光譜輻射亮度監控以回傳系統健康狀況,並設有內部參考標準,可在產品壽命週期內進行系統重新特徵化與性能優化。
靈活的系統整合與自動化 :適用於實驗室及自動測試系統(ATS)。配有直覺式的啟用軟體,並提供通用命令介面,允許使用者撰寫腳本來設定特定的測試序列,以滿足獨特的應用與測試需求。
Spectra-RGB Precision Reference Sources 主要參數
亮度範圍
50尼特至2,000,000 尼特,色溫6500 K
波長偏移
± 5 nm(在整個亮度範圍內)
端口處清晰視場
45 mm(水平)× 65 mm(垂直)× 75°(全對角角)
亮度連接埠直徑選項
16 mm、20 mm 和25.4 mm
空間亮度均勻性
大於97%(在90% 清晰孔徑內評估)
角度亮度均勻性
96%(在±30° 範圍內,中心點評估)
短期亮度穩定性
± 1.0% 峰值-峰值,1 分鐘內
長期亮度穩定性
± 2.0% 峰值-峰值,1 小時內
光譜性能
波長重複性
± 2 nm(同一系統,長期)
峰值波長穩定性
穩態下1 小時內< 1 nm;在輸出範圍10% 至90% 條件下,± 5 nm
光譜輸出
標稱值(初始容差範圍)
紅色峰值波長
624 nm(619 nm - 629 nm)
綠色峰值波長
519 nm(514 nm - 524 nm)
藍色峰值波長
447 nm(442 nm - 452 nm),470nm(465nm-475nm)
Spectra-RGB Precision Reference Sources 應用
AR 波導顯示器光譜匹配:專門針對 AR 波導(waveguides)顯示器 的光譜匹配進行設計與優化。
成像色度計特徵化與校正:用於成像色度計(imaging colorimeter) 的性能特徵化(characterization)與量測誤差修正。
窄頻雷射與 microLED 元件測試:透過精密的峰值匹配與波長穩定性,可有效降低標準色度計濾光片固有的斜率誤差,為 窄頻雷射(narrowband laser) 和 microLED 元件 提供精確的性能數據與光譜失配修正。
自動測試系統(ATS)與產線整合:系統設計能無縫整合至**自動測試系統(ATS)中,適用於從實驗室工作檯(benchtop)研發到工廠生產線(production)**的各種運作環境。
自訂測試與特徵化序列:提供通用命令介面,允許工程師透過撰寫腳本來設定特定的測試點,以因應獨特的測試、分析與特徵化需求。