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ClearWave™ Plus 隱形眼鏡全功能光學量測儀
    發布時間: 2026-08-25 10:07    
Lumetrics
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ClearWave™ Plus 隱形眼鏡全功能光學量測儀

Lumetrics研發的 ClearWave™ Plus是一款專為隱形眼鏡製造商設計的全方位量測系統。該設備整合了波前感測器與低相干干涉儀技術，能透過單鍵操作同時檢測鏡片的光學性能與幾何尺寸。與傳統需要多台儀器的流程相比，這項專利技術顯著減少了鏡片搬運次數，提升了檢驗的速度與精確度。系統可精確測量包含球面度、散光、中心厚度及矢高等多項關鍵指標，並提供高解析度的波前地圖分析。

ClearWave™ Plus 隱形眼鏡全功能光學量測儀 特點

  • 三合一整合量測： 結合改良型 ClearWave 與業界標準 OptiGauge® 厚度量測系統，一台即可取代過往需三台設備才能完成的檢測流程。
  • 一鍵極速操作： 單鍵自動完成多參數同步掃描，大幅減少鏡片拿取與人為操作干擾。
  • 權威品牌背書： 由全球眼科光學量測領導品牌 Lumetrics 研發，獲全球頂尖隱形眼鏡製造商與研發實驗室廣泛採用。

ClearWave™ Plus 隱形眼鏡全功能光學量測儀 主要參數

  • 光學度數分析： 球面度數（Sphere）、柱面度數／散光（Cylinder）、軸度（Axis）、標示度數（Label Power）
  • 高階像差檢測： 哲尼克波前像差（Zernike Wavefront Aberrations）
  • 幾何尺寸量測： 中心厚度（CT）、矢高（SAG）、鏡片直徑（Diameter）、曲率半徑（Radius of Curvature）

ClearWave™ Plus 隱形眼鏡全功能光學量測儀 應用

  • 隱形眼鏡製造大廠： 產線快速篩選與成品出廠品管（QC/QA）。
  • 光學研發實驗室（R&D）： 新型鏡片設計驗證與材料特性分析。
ClearWave™ Plus 隱形眼鏡全功能光學量測儀導入效益
降低設備與維護成本： 整合三種量測模組，節省產線空間與多台儀器採購支出。
提升檢驗通量與良率： 減少鏡片手動搬運造成的形變或損壞，實現快速、高精度的標準化量測。
ClearWave™ Plus 隱形眼鏡全功能光學量測儀
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