快速薄膜測量工具
Alpha-SE非破壞性薄膜/光阻厚度量測儀是JAW橢圓儀中,設計用來快速量測一般薄膜材料的簡易橢圓儀,非破壞性膜厚量測,光阻厚度量測,氧化物量測,提供波長380-900nm,並有65度/70度/75度/90度的量測角度可調整,單點量測最快約3秒即可取得數據,軟體內見許多種數學函數來描述吸收膜層的特性:如Lorents、Gaussian、Harmonic等。
2021-01-08
3/15~3/20世貿一館
2019-08-05
光譜式輝度/色度計
2020-01-10
5.00mW Linearly Polarized Laser Head same 3225H-PC